Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg

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Institut für Physik
FG Experimentelle Polymerphysik

Telefon: 0345 5525340
Telefax: 0345 5527160

Von-Danckelmann-Platz 3
06120 Halle/Saale

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Experimentelle Methoden

  • Klein- und Weitwinkelröntgenstreuung
  • Rasterkraftmikroskopie
  • Optische Mikroskopie
  • Dynamisch-Mechanische Spektroskopie/Rheologie
  • Universalprüfmaschine
  • Kalorimetrie (DSC, Dünnfilm-DSC)
  • Rotationsbeschichtung
  • Vacuum Compression Molding
Microfocus X-ray instrument

Microfocus X-ray instrument

Mikrofokus-Röntgeninstrument

  • Röntgenklein- und weiteinkelstreuung in Transmission und unter streifendem Einfall
  • Strukturgrößen von 0.2 bis 200 nm
  • temperaturgeregelte Probenhalterungen im Vakuum für Festkörper und Flüssigkeiten
  • Temperaturbereich -80°C bis 350°C


Verantwortliche: Alexander Much, Dr. Albrecht Petzold

Kratky camera

Kratky camera

Kratkykamera

  • modifizierte Kratkykamera von Anton Paar KG
  • geeignet für feste wie auch flüssige Proben
  • Strukturanalyse im nm-Bereich
  • Temperaturbereich: 20°C bis 250°C


Verantwortliche: Johann Conrad Holz

Diffraction System

Diffraction System

Diffraktometer

  • Empyrean Diffraction System von PANalytical
  • geeignet für Pulver, dünne Filme, strukturierte Proben
  • Röntgenbeugung und Röntgenreflektivität
  • divergente oder parallele Strahlgeometrie
  • 2θ Bereich: 0° bis 100°
  • Temperaturbereich: -120°C bis 350°C


Verantwortliche: Dr. Oleksandr Dolynchuk

AFM

AFM

Rasterkraftmikroskopie

  • NanoWizard 4 von JPK Instruments
  • Multimode 8 von Bruker
  • Tapping-Mode im repulsiven und attraktiven Bereich
  • Peak Force Tapping Mode
  • Temperaturbereich 25°C bis 240°C
  • Messungen auch an großen Proben möglich


Verantwortliche: Marthinus van Niekerk

Optical Microscope

Optical Microscope

Polarisationsmikroskopie / Opt. Mikroskopie

  • Polarisationsmikroskop BX 51 von Olympus
  • In Reflektion und Transmission
  • Linkam stage für Heiz-und Kühlexperimente vorhanden
  • Heizen bis zu 600 °C
  • Kühlen mit Flüssigstickstoff möglich
  • Messungen in Stickstoffatmosphäre möglich


Verantwortliche: Katrin Herfurt

DMA-Rheometer

DMA-Rheometer

Dynamisch-Mechanische Spektroskopie/Rheologie

  • Anton Paar MCR 501, TA Instruments ARES-G2
  • Modul- und Viskositätsmessungen in verschiedene Probengeometrien (Platte-Platte, Kegel-Platte, Streifen, Couette)
  • Temperaturbereich: -80°C bis 400°C


Verantwortliche: Tonghua Liu

Universalprüfmaschine

  • Universalprüfmaschine mit einem 50kN Lastrahmen
  • Kraftmesszellen: 1kN, 10kN, 50kN
  • Die Höchstgeschwindigkeit beträgt 120mm/min, keine Begrenzung für die niedrigste Geschwindigkeit (0,0005mm/min)
  • Die Messungen können mit einer konstanten Dehnungsrate durchgeführt werden
  • Temperaturkammer: von -80 bis 250°C
  • Die Dehnung kann an der Probe/am Werkzeug mit zwei Dehnungsmessern mit einer Auflösung von 0,5µm gemessen und kontrolliert werden
  • Griffe: Kompressionsplatten, Kompressionskäfig, Dehnung


Verantwortliche:

Dr. Rose Mary Michell Uribe

DSC8000

DSC8000

DSC-Differential Scanning Calorimetry

  • DSC8000 von Perkin Elmer
  • Temperaturbereich: -60°C bis 400°C
  • Heizraten bis zu 100 K/min
  • keine Flüssigkeitsmessungen


Verantwortliche: Katrin Herfurt, Dr. Albrecht Petzold

Flash-DSC

Flash-DSC

FSC-Fast Scanning Calorimetry

  • Flash-DSC 1 von Mettler Toledo
  • Temperaturbereich: -80°C bis 450°C
  • Heizraten bis zu 5000K/s
  • geeignet für dünne Filme


Verantwortliche: Katrin Herfurt

Spin Coater

Spin Coater

Spin Coater

  • Spin Coater (Rotationsbeschichter) von Headway Research, Inc.
  • Drehzahl bis zu 5000 U/min
  • Temperaturbereich 25°C bis 150°C


Verantwortliche: Marthinus van Niekerk

Vacuum Compression Molding

Vacuum Compression Molding

Vacuum Compression Molding

  • VCM von MeltPrep GmbH
  • verlustfreie Präparation von blasenfreien, homogenen Polymerproben
  • z.B. für Rheology oder Röntgenstreuung
  • Temperaturbereich: 50°C - 250°C
  • Probenform: Scheibe (25mm Durchmesser) oder Streifen (40mm x 10mm)


Verantwortliche: Tonghua Liu

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